В
электронном микроскопе вместо света для построения изображения используют
поток электронов в вакууме.
В качестве «линз», фокусирующих электроны, служит электромагнитное поле, создаваемое
электромагнитными катушками. Изображение в электронном микроскопе наблюдают
на флюоресцирующем экране и фотографируют. Объекты при электронной микроскопии
находятся в глубоком вакууме, поэтому подвергаются фиксации и специальной
обработке.
Кроме того, они должны быть очень тонкими, так как поток электронов сильно
поглощается объектом. В связи с этим в качестве объектов используют ультратонкие
срезы толщиной 20—50нм, помещенные на тончайшие пленки. Разрешающая микроскопов
значительно выше чем световых и достигает 1,5А (0,15 нм), что позволяет получить
полезное увеличение в миллионы раз.
Наиболее широко применяются просвечивающая (трансмиссивная)
и сканирующая электронная микроскопия.
Просвечивающая электронная микроскопия применяется для изучения ультратонких
срезов микробов, тканей, а также строения мелких объектов (вирусов, жгутиков.
и др.), контрастированных фосфорно-вольфрамовой кислотой, уранилацетатом,
напылением металлов в вакууме и др.
Сканирующая электронная микроскопия применяется для изучения поверхности объектов.
